京都大学(京大)は10月21日、SiCの欠陥(不完全性)を独自手法で低減することで、実用的なトレンチ構造のSiCトランジスタの性能を従来比で6倍以上向上させることに成功したと発表した。
Source:Mynavi.jp 小林行雄 [read more]
京都大学(京大)は10月21日、SiCの欠陥(不完全性)を独自手法で低減することで、実用的なトレンチ構造のSiCトランジスタの性能を従来比で6倍以上向上させることに成功したと発表した。
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